Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп с аналитическими возможностями

Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп с аналитическими возможностями
Цена: По запросу
Производитель: FEI Flag
Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для  исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.
  • Описание
  • Характеристики
  • Документация

Сканирующий электронный микроскоп Q250 SEM Thermo Scientific с аналитическими функциями.

Исследования в режимах: высокий вакуум, низкий вакуум, режим «Естественная среда (ESEM)»

Микроскоп Q250 СЭМ разработан для исследований широкого спектра материалов с возможностью изучать структуру и состав образца. Применяя СЭМ Thermo Scientific™ Q250™ пользователи смогут решить гораздо больший круг научно-исследовательских задач.

С микроскопом Thermo Scientific™ Q250™ вы сможете исследовать практически все типы образцов и получать гораздо больше информации о химическом составе образца, так как изображения поверхности образца комбинируются с данными элементного анализа, полученного при помощи UltraDry™ EDS детектора.

Аналитический СЭМ для исследований различного рода материалов

Требования современных ученых простираются горазде шире чем исследования поверхностей простых металов и покрытий. Q250™- аналитический СЭМ, который обеспечит изображения поверхности высочайшего качества и химический анализ образцов, начиная от металлов, фракций, полированных поверхностей до непроводящих мягких материалов, т.е. СЭМ Q250 - это продвинутая модель микроскопа, которая подойдет для исследований насущных задач и задач на перспективу.

Основные преимущества Q250™

Основным преимуществом микроскопа является наличие 3 режимов исследований, предназначенных для различных типов материалов: низкий вакуум, высокий вакуум и режим «естественная среда».

Исследование материалов на Q250 cтановится наиболее полноценным с системой элементного анализа при помощи UltraDry EDS детектора и специального программного обеспечения Pathfinder.

Основные технические характеристики:

  • Ускоряющее напряжение - 200 В - 30 кВ

  • Ток пучка – до 2 мкA, плавная регулировка

  • Увеличение – от 6 до 1,000,000×

  • Разрешение в режиме высокого вакуума - 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах

  • Разрешение в режиме высокого вакуума - 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах

  • Разрешение в режиме высокого вакуума - 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
  • Детектор UltraDry Premium EDS (ЭДС) - до 1 000 000 импульсов в секунду с 10 автоматически выбранными константами скорости для максимальной пропускной способности рентгеновского излучения с оптимизированной спектральной характеристикой.

Особенности и преимущества Q250 SEM:

Микроскоп Q250 имеет легко настраиваемый пользовательский интерфейс с функцией максимальной производительности с возможностью наиболее полно собрать данные об образце.

Навигация имеет автоматическую настройку, движение по двойному щелчку мышки, функцию «наведи курсор и увеличь» и другие полезные, удобные встроенные функции.

Технология SmartSCAN™ - это интеллектуальная технология сканирования для снижения уровня шума и обеспечения лучших данных.



Увеличение: от 6 до 1,000,000×
Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах