Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Inspect SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп

Inspect SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп
Цена: По запросу
Производитель: FEI Flag
Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
  • Описание
  • Документация
Линейка микроскопов Inspect™ включает два сканирующих электронных микроскопа:

Inspect S — сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом 
Inspect F — сканирующий электронный микроскоп с источником электронов с полевой эмиссией (автоэмиссионный катод Шоттки). 
Inspect S (с вольфрамовым катодом) — имеет высокий и низкий вакуум, идеален для проведения рутинных исследований в промышленных условиях. 
Inspect F (с автоэмиссионным катодом Шоттки) имеет высокий, стабильный ток пучка FEG, необходимый для проведения фундаментальных научных исследований. Прибор подходит для научных лабораторий, для исследований характеристик материалов, для проведения экспертизы и контроля качества материалов.

Линейка микроскопов Inspect™ предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.

Данные модели могут быть укомплектованы крио-столами для образцов, детекторам для энергодисперсионного анализа (метод энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии/ EDS/ ЭДРС), детектором для анализа по длине волны (метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны/WDS/ДРСДВ), детектором для анализа с помощью дифракции отраженных электронов (EBSD/ДОЭ).
Разрешение Ускоряющее напряжение Ток луча
Inspect S • Высокий вакуум
- 3.0nm at 30kV (SE)
- 8.0nm at 3kV (SE)
- 4.0nm at 30kV (BSE)
• Низкий вакуум
- 3.0nm at 30kV (SE)
- 4.0nm at 30kV (BSE)
- 10nm at 3kV (SE)
200V – 30kV До 2μA –
с плавной регулировкой
Inspect F • Высокий вакуум
- 0.8nm at 30kV (STEM) *
- 1.0nm at 30kV (SE)
- 2.5nm at 30kV (BSE) *
- 3.0nm at 1kV (SE)
200V – 30kV До 2μA –
с плавной регулировкой