Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Helios DualBeam FEI - электронно-ионный (двухлучевой) микроскоп

Helios DualBeam FEI - электронно-ионный (двухлучевой) микроскоп
Цена: По запросу
Производитель: FEI Flag
Helios NanoLab — двухлучевой электронно-ионный микроскоп (DualBeam). 
Разрешение электронного пучка 0.8 нм при 15 кВ и 0.9 нм при 1 кВ.
Разрешение в режиме ионного пучка 4.5нм при 30 кВ.
  • Описание
  • Характеристики
Двухлучевые микроскопы линейки Helios NanoLab представляют собой сочетание самых современных сканирующих электронных микроскопов и технологий фокусированного ионного пучка Sidewinder FIB.

В комплекте с системой газовой инжекции, дополнительными детекторами и манипуляторами обеспечивает непревзойденное разрешение и высокопроизводительное травление при помощи пучка ионов для быстрой подготовки образцов с целью последующего анализа в просвечивающем электронном микроскопе.

Дополнительный детектор STEM 30 кВ поддерживает высокое разрешение и высокий контраст изображения, что делает систему уникальной и не имеющей себе равных среди приборов для визуализации поверхности, анализа материалов, модификации поверхности и подготовки образцов для TEM
Разрешение эл.пучка: 0.8 нм при 15 кВ
Разрешение эл.пучка: 0.9 нм при 1 кВ
Разрешение эл.пучка: 4.5нм при 30 кВ