Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

EXplorer Aspex FEI - сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализом

EXplorer Aspex FEI - сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализом
Цена: По запросу
Производитель: Aspex Flag
Cканирующий электронный микроскоп EXplorer Aspex (FEI) со встроенным энергодисперсионным анализом 
  • Описание
  • Документация
EXplorer Aspex FEI — cканирующий электронный микроскоп со встроенным энергодисперсионным анализом для исследований широкого спектра поверхностей и частиц. 
В комплектацию микроскопа входит стандартное программное обеспечение для микроанализа. Если Ваши потребности предполагают расширенный анализ частиц, то ASPEX может предложить программы с более широким спектром исследовательских возможностей:

1. AFA Automated Feature Analysis (Автоматизированный анализ признаков) — быстрый и точный инструмент для определения размеров и количества эллипсоидальных частиц или частиц, имеющих форму, приближенную к эллипсу.

2. CFA Complex Feature Analysis (Комплексный анализ признаков) — автоматическое определение размера и количества частиц, высокая производительность: сотни или тысячи частиц в час без вмешательства оператора; специально оптимизирован для определения частиц сложных и нестандартных форм.

3. MQA ™ Metal Quality Analyzer (Анализатор качества металла) — специализированная SEM / EDS система, которая позволяет осуществлять контроль качества материалов в технологическом процессе, в том числе и на сталелитейных заводах. Простота в использовании предлагаемого программного обеспечения и форма отчетности, которая формируется одним нажатием кнопки, позволяет осуществлять контроль качества стали в автоматическом режиме 24/7.

4. GSR Gun Shot Residue Analysis (Анализ следов выстрела) — программа обеспечивает морфологический и элементный анализ частиц и формирует отчет об исследуемом образце.

Технические характеристики:
Эффективность распознавания
частиц
Более чем 95%
Диапазон определяемых частиц От 30 нм до 5 мм
Детекторы SED, Quad BSED, SDD EDX
Ускоряющее напряжение 0.2 до 25 кВ
Диапазон перемещения столика 80мм x 100мм
Вакуумная система Режим высокого вакуума
и регулируемый вакуум
Диапазон определяемых
элементов
От бора
Разрешение по энергии 135 эВ
Загрузка образцов Одновременная загрузка
6-ти образцов
Столик с электроприводом X-Y 80мм x 100мм
Размеры камеры 180мм x 230мм x 140мм