Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Атомно-силовой микроскоп Nano-Оbserver CSInstruments

Атомно-силовой микроскоп Nano-Оbserver CSInstruments
Цена: По запросу
Производитель: CSInstruments
Новинка!!!

АСМ Nano-Observer CSI - гибкий  инструмент для исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности. Интуитивно понятный интерфейс позволяет быстро овладеть навыками использования АСМ.

  • Описание
  • Документация

Nano-Observer CSI - атомно-силовой микроскоп с большим выбором дополнительных функций

Атомно-силовой микроскоп Nano-Observer CSI - это гибкий и мощный инструмент для нанотехнологий. Спроектированный с использованием новейших технологических решений микроскоп Nano-Observer AFM сочетает в себе большие исследовательские возможности и простоту использования. Система комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей.

Система использует низкошумящий лазер и предварительную юстировочную систему, что облегчает получение достоверных изображений высокого качества с помощью различных методик АСМ.

Компактный микроскоп Nano-Observer AFM будет полезен в работе как начинающим исследователям, так и опытным пользователям. Режим предпросмотра образца и высокий уровень автоматизации позволяют быстро и удобно получать данные об образце на атомном уровне.

Технические характеристики атомно-силового микроскопа Nano-Observer CSI

Диапазон сканирования XY

100 мкм (допуск +/- 10 %)

Z диапазон

9 мкм (допуск +/- 10 %)

Разрешение по XY

24-битное управление – 0.06 А

Разрешение по Z

24-битное управление – 0.006 А

Уровень шума Z

< 0.05 нм RMS

Маломощный когерентный лазер

Длина волны 658 нм – мощность < 1 мВт

Цветная оптическая система визуализации

Вид сверху и сбоку

6 выходов ЦАП

6 цифро-аналоговых преобразователей – 24 бит

8 входов АЦП

8 аналого-цифровых преобразователей – 16 бит

Точки данных

До 4096

Встроенная блокировка (режим генерации & фаза)

До 6 МГц

Интерфейс

USB 2.0

Размер контроллера / вес

8 х 20 х 26 см / 2 кг

Мощность

AC 100 – 240 В, 47-63 Гц

Операционная система

Windows XP (SP3 & Framework.NET 3.5 SP1) или Windows 7 или 8

Модули для электрических измерений

    HD-KFM (Kelvin Force Microscopy) - поверхностная потенциальная микроскопия
    • Картирование поверхности
    • Сверхвысокая чувствительность и высокое пространственное разрешение
    ResiScope - модуль для контактных АСМ экспериментов
    • Resiscope - это модуль для проведения контактных АСМ экспериментов. При помощи проводящего зонда считываются изменения токов и сопротивлений на большом поле зрения при подключении внешнего усилителя. Токовые характеристики можно снимать во всех участках образца.
    • The ResiScope II- это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением. Этот модуль можно комбинировать с другими модулями: MFM/EFM (AC/MAC) и KFM (AC/MAC III) для получения различной информации от одного и того же участка образца. Измерения проводятся за счет подачи потенциала между образцом и проводящей головкой зонда.
    Модуль Soft ResiScope - модуль для измерения токовых характеристик
    • Soft ResiScope - это динамический контактный модуль, который позволяет проводить контактные эксперименты, не повреждая поверхность образца.
    • Модуль позволяет изучать органические фотоэлементы, проводящие полимерные структуры и биологические объекты.

Другие модули

    Магнитно-силовая микроскопия
    • Получение топографической информации от исследуемого объекта происходит в результате сканирования поверхности магнитной головкой
      Проводящая атомно-силовая микроскопия
      • При использовании этого модуля проводящая головка считывает отклонения тока на поверхности образца и усиливает их. Кривые тока\напряжения могут быть построены для различных областей образца.
        Метод модуляции силы
        • В процессе реализации данной методики образец сканируется постоянной осциллирующей головкой, при таком периодическом движении кантилевер снимает данные о рельефе поверхности образца.

          Качественные измерения

          • При помощи низкощумящего лазера микроскоп Nano Observer может получать изображения высокого разрешения с высокой степенью надёжности.
          • Высокое разрешение, четкий контраст изображения
          Патентованный столик образцов Flexstage
          • Точность перемещения и низкий дрейф
          • Перемещение по трем независимым осям
          • Получение атомарного и молекулярного разрешения на полях зрения до 100 микрон
          • Разрешение сканирования: 0.06 нm по осям X-Y, 0.006 нм по оси Z

        Контроль параметров среды

        Защитный кожух для контроля температурных параметров
        • Защищает от загрязнения и окисления образца
        • Стабильные условия для проведения электрических экспериментов
        Модуль контроля температуры
        • Помимо контроля температурных параметров есть возможность изменять температуру образца в широком диапазоне температур: от комнатной до 200°C. Это позволяет изучать явления фазовых переходов, например, для полимерных или биологических образцов.
        Режим измерения жидкостей
        • Микроскоп может быть оборудован комплектом для проведения измерений на жидких образцах.
         

ЧИТАТЬ СТАТЬЮ ОБ АСМ NANOOBSERVER>>