Разрешение эл.пучка: 0,8 нм при 30 кэВ (STEM) Разрешение эл.пучка: 1,0 нм при 15 кэВ Разрешение эл.пучка: 1,6 нм при 1 кэВ
В микроскопе Scios™ FEI применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
Verios XHR SEM FEI - новое поколение сканирующих электронных микроскопов с экстремально высоким разрешением. Обеспечивает субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения.
Разрешение эл.пучка: 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ
Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп.
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.
АСМ Nano-Observer CSI - гибкий инструмент для исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности. Интуитивно понятный интерфейс позволяет быстро овладеть навыками использования АСМ.
Оптические столы ClassOne™ CleanTop® разработаны для эксплуатации в условиях чистых помещений. Имеют стальную конструкцию и могут быть выполнены в 2 вариантах структурного демпфирования.
Оптические столы научного класса обладают высокими конструкционными показателями с уменьшенным по сравнению со столами исследовательского класса уровнем структурного демпфирования. Уровень пиков податливости превышен в 4 раза по сравнению с платформами исследовательского класса.
ResiScope II – это продолжение модуля ResiScope, который был разработан для проведения контактных АСМ экспериментов. Новый модуль ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением.
ResiScope II используется для исследований на АСМ Nano-Observer CSI - конфигурируемый АСМдля исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности.
НОВИНКА!!!
Микроскоп VR-3000 Keyence поддерживает большой спектр измерений и может быть использован как оптический профилометр и измеритель шероховатости.
Микроскоп Keyence VHX-5000 — новые возможности цифровой микроскопии. С помощью VHS5000 Вы легко и быстро решите сложные
задачи в микроэлектроники, машиностроении, материаловедении,
минералогии, криминалистике, биологии и пр. Такой обширный спектр
применения объясняется уникальными технологическими особенностями
прибора.
VHX6000 KEYENCE - усовершенствованная модель микроскопа VHX5000. Обладает более продвинутой системой построения и обработки изображения и расширенными измерительными и аналитическими возможностями.
